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La Microscopie Électronique à Balayage

JEOL JSM -35

SOMMAIRE

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VISITE VIRTUELLE INTERACTIVE

Introduction

I - Aperçu Historique

 

II - Fonctions principales du M.E.B.

III - Acquisition d’une image sur l’écran

A - Présentation des instruments

B - Acquisition d’une image sur un écran

 

IV - Obtenir une image via l’interface ADDA sur l’écran d’ordinateur

 

IV - Procédure d’analyse X

A - Présentation

B - L’ analyse X

1 - Obtention d’un spectre de rayons X

a) Configuration du logiciel

b) Acquisition du spectre

c) Impression

2 - Analyse qualitative

3 - Analyse quantitative

4 - Pour des analyses plus avancées avec déconvolution et suppression Background

C - Cartographie élémentaire (X Mapping)

 

V - Procédure d'Arrêt du MEB et des Ordinateurs

 

VI - Description des Principales Commandes et des Principaux Éléments du MEB

A - La colonne du MEB

B - Le panneau de contrôle du MEB

a) Panneau de contrôle de l’alimentation

b) Indicateurs des réglages

c) Rack Magnification

d) Rack Secondary Electron Image

e) Rack Lens

f) Rack Accelerating Voltage

 

Conclusion

Bibliographie

Lexique

Schéma reliant les différents appareils

 

Visite de l'EUDIL

Réalisation du Projet